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相位调制测量原理

/principle of phase modulation measurement/
最后更新 2022-01-20
浏览 222
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通过被测量的作用,使光纤内传播的光波相位发生变化,再用干涉测量技术把相位变化转化为光强变化,从而检测出待测物理量。

英文名称
principle of phase modulation measurement
所属学科
光学工程

光纤中光的相位表达式为:



(1)

式中为光在真空中的波数,为光纤波导的物理长度;为折射率。应力、应变、温度等外界物理量的变化会改变三个波导参数,从而导致光波相位变化,即实现相位调制。

光纤中光波相位的影响因素主要有:①光纤物理长度的变化(轴向应变伸长、热膨胀引起的伸长、泊松比变化引起长度伸长);②光纤折射率及分布的变化(温度引起、光弹效应);③光纤横截面几何尺寸的变化(压力、热膨胀)。为简化分析,假定折射率沿其截面分布不变化,则光相位调制只由光纤长度、折射率大小和横截面尺寸产生。光纤中光的相位变化可以表示为:



(2)

式中为轴向长度变化产生的相位移;为折射率变化产生的相位移;为光纤直径变化产生的相位移。同时热胀冷缩效应也会引起光纤中光的相位变化。外界温度对光纤的热影响是比较简单的。此时,可只考虑温度引起的长度变化和折射率变化,而忽略温度引起的直径变化。

相位调制测量原理可应用于长度、角度、平面度、折射率、气体或液体含量、光学元件面形、光学系统像差、光学系统内部缺陷等的测量。

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