首页 . 工学 . 光学工程 . 光学应用 . 光学测量 . 光纤器件参数计量 . 波长相关损耗

波长扫描法

/wavelength scanning method/
条目作者杨天新

杨天新

最后更新 2022-01-20
浏览 192
最后更新 2022-01-20
浏览 192
0 意见反馈 条目引用

由扫描范围覆盖待测器件标定的工作带宽的波长进行测定的方法。

英文名称
wavelength scanning method
所属学科
光学工程

波长扫描测量过程主要有3步:①不接入待测器件,将扫描光源直接接到功率计上,设定扫描范围为待测器件标定的工作带宽,记录一组扫描光源不同波长的输出功率作为标定校准使用;②接入待测器件,让扫描光源再扫描一次,记录待测器件对不同波长响应后的功率;③如果功率单位是毫分贝,的差待测器件的光谱响应特性。在工作带宽内找到的最大值和最小值,两者的差即待测器件的波长相关损耗。

有一些波长可调谐光源内置自动功率控制功能,可通过负反馈在不同波长输出的功率始终恒定,如果使用这样的光源,第一步可以省略,而第三步可直接查找的最大值和最小值的差即可。

实验中要求波长可调谐光源的谱宽要窄,一般常用谱宽在0.1纳米左右的可调谐激光器。如果谱宽过窄,很容易由于各种反射、散射而引起干涉,造成测量不稳定;如果谱宽过宽,有会造成波长分辨率不高,待测器件的光谱响应特性可能会失真。

相关条目

阅读历史

    意见反馈

    提 交

    感谢您的反馈

    我们会尽快处理您的反馈!
    您可以进入个人中心的反馈栏目查看反馈详情。
    谢谢!