移动磁场法拍长测试原理与压力调制法类似。移动磁场法通常采用等幅的线偏振光沿不同角度入射或圆偏振光入射，在待测光纤的其中一小段施加微小磁隙磁场，加上纵向磁场后，由于法拉第效应，将会在此段光纤中引入圆双折射。在光纤的输出端，通过棱镜，光束被分成两束与偏振方向互相垂直的光束，由双路光探测器接收转换为电信号进行数据处理。此磁隙点位置传输光偏振态发生变化，导致在出射端光强的周期变化，光强变化周期对应的位移长度，即为被测光纤的拍长。

移动磁场法是非接触性测量，不破坏光纤的涂覆保护层，适合对高双折射多孔光纤的拍长测量。但其灵敏度受到磁隙宽度和磁场强度的限制，同时还会受注入光的偏振态和检偏器件的检偏方式影响。