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[{"ID":42423,"Name":"工学"},{"ID":64128,"Name":"光学工程"},{"ID":64129,"Name":"光学应用"},{"ID":64148,"Name":"光学测量"},{"ID":64194,"Name":"波像差计量"},{"ID":64195,"Name":"光学零件面形偏差测量"}]
泰曼格林干涉仪测量法
/Twyman-Green interferometer measurement method/
最后更新 2023-05-29
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通过测量光波波面经光学零件后的变形来确定零件质量的方法。以迈克耳孙干涉仪为原型的一种常用的干涉仪。
- 英文名称
- Twyman-Green interferometer measurement method
- 所属学科
- 光学工程
京公网安备 11010202008139号
