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裂隙式异质结隧穿场效应晶体管

/broken-gap heterojunction tunneling field effect transistor/
条目作者张立宁

张立宁

最后更新 2023-08-30
浏览 153
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两种半导体材料形成的异质结分别进行p型掺杂和n型掺杂,并由栅电压调控其电势形成的场效应晶体管。

英文名称
broken-gap heterojunction tunneling field effect transistor
所属学科
电子科学与技术

两种半导体材料可以形成裂隙式异质结,其能级示意图如图1所示。在平带条件下,材料a的价带顶能级均位于材料b的导带低能级之上,其能级偏移为ΔEvc。一个典型的裂隙式异质结是锑化镓(GaSb)(Eg=0.75电子伏)作为材料a,砷化铟(InAs)(Eg=0.36电子伏)作为材料b形成的结,其能级偏移ΔEvc=0.09电子伏。对GaSb进行p型掺杂,InAs进行n型掺杂并由栅电压调控其电势,可以形成裂隙式异质结隧穿晶体管。从原理上说,裂隙式异质结隧穿晶体管是常开的,在平带条件下已有电流通过。在实际设计中可利用半导体材料的量子限制效应,抬高材料b的最低电子能级(图1虚点线),使晶体管处于常关状态。正压偏置的栅极降低InAs的最低电子能级,晶体管进入开态(图2),移除势垒后隧穿概率增强,开态电流也极高。

图1 裂隙式异质结能级的示意图图1 裂隙式异质结能级的示意图

图2 裂隙式异质结隧穿晶体管开态能级的示意图图2 裂隙式异质结隧穿晶体管开态能级的示意图

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