被测试样品通过高加速寿命试验所暴露的缺陷涉及线路设计、工艺和元部件等。高加速寿命试验以连续的测试、失效分析、缺陷改进及验证构成了整个程序，而且可能是个闭环循环过程。

高加速寿命试验的主要功能有：①利用高环境应力将产品设计缺陷激发出来，并加以改善；②了解产品的设计能力及失效模式；③作为高应力筛选及制定品质核查规格的参考；④快速找出产品制造过程的瑕疵；⑤增加产品的可靠性，减少维修成本；⑥建立产品设计能力数据库，为研发提供依据并缩短设计制造周期。

高加速寿命试验的具体测试内容包括：①逐步施加应力直到产品失效或出现故障；②采取临时措施，修正产品的失效或故障；③继续逐步施加应力直到产品再次失效或出现故障，并再次加以修正；④重复以上“试验→失效→改进”的步骤；⑤找出产品的基本操作界限和基本破坏界限。