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效率下降效应

/efficiency droop effect/
条目作者刘喆

刘喆

最后更新 2023-08-08
浏览 104
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发光效率随注入电流的增加而下降的现象。

英文名称
efficiency droop effect
所属学科
电子科学与技术

对于蓝光激光器来说,一般当注入电流密度达到20安/厘米2时,外量子效率达到最大值,直到达到阈值电流(大约2千安/厘米2)效率逐渐下降到原来的一半。发光二极管也符合这种规律。

效率下降效应的产生原因主要有:①俄歇复合。电子-空穴复合时辐射出来的能量被其他载流子吸收,使其跃迁到高能级,并与晶格反复碰撞失去能量,属于非辐射复合。在数值计算(载流子速率方程)中用C因子表示俄歇复合速率。俄歇复合速率与温度、材料的禁带宽度和载流子浓度有关。温度越高,C因子越大;禁带宽度越小,C因子越大,即长波长器件的C因子比短波长器件大;载流子浓度越大,C因子越大。长波长器件比短波长器件效率下降效应明显,注入电流越大的器件效率下降效应越明显。②载流子泄漏。引起载流子泄漏的原因有很多,如极化电场使p区的导带低电势降低,电子容易跃迁;注入电流密度很大,电子热动能变大,也容易跃迁过势垒等。③电流分布不均匀及载流子分布不均匀。电子、空穴位于不同的阱内,无法充分复合。空穴的有效质量比电子的有效质量大,迁移率较低,在阱内分布不均匀,若存在极化电场则更加剧了载流子分布不均匀性。极化电场的强弱与很多因素有关。对某一特定器件最好使用材料非极性面。

效率下降效应会极大地限制氮化镓基发光器件的应用,因此针对产生原因可以采取相应的办法主要有:①降低量子阱中的载流子密度,可以降低由俄歇复合引起的效率下降。在相同的驱动电流下,降低载流子密度的方法有增加量子阱厚度,增加量子阱数目,提高横向电流扩展的均匀性和增大芯片面积等。②提高多量子阱有源区的电子约束能力是降低电子泄露最直接的办法。具体的方法有增加导带偏移以增加阻挡电子的势垒高度,设计量子阱垒层,减小极化效应并克服晶体质量问题,引入插入层以减小与应变相关的极化场等。③增强有源区的空穴注入使电流分布均匀。具体的方法有对量子阱垒层做p型掺杂;通过设计不同量子阱垒层厚度结构来改善空穴在有源区的分布,当垒层厚度变薄,除了可增加空穴注入有源区,也使得空穴浓度分布比较均匀;将靠近p区的量子阱垒层氮化镓结构替换为氮化铟镓结构,降低电子阻挡层与有源区的势垒高度,增加空穴注入效率。

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