主要用以确定大块单晶试样的晶体学位向。

1912年，德国物理学家M.von 劳厄首先用此法获得晶体对X射线衍射的照相图，故以其名字命名，所获得的照相图简称“劳厄图”。劳厄法用完整的单晶体为试样，所用单晶样品保持固定不变，以辐射束的波长作为变量来保证晶体中一切晶面都满足布拉格条件，故选用连续X射线束。

根据X射线源、晶体与底片的相互位置的不同，劳厄法分为透射劳厄法和背射劳厄法（见图）。透射劳厄法所出现的衍射点分别在不同的椭圆上，背射劳厄法衍射点分别分布在不同的双曲线上。将获得的斑点图样与Greninger（背射）表或Leonhardt（投射）表进行对照，可确定单晶体的位向信息。根据斑点的大小和形状，也可以评估单晶试样的完整性。

劳厄法示意图