首页
[{"ID":42423,"Name":"工学"},{"ID":64314,"Name":"材料科学与工程"},{"ID":100017,"Name":"材料科学基础"},{"ID":100067,"Name":"材料表征与分析"},{"ID":100068,"Name":"[显微术]"},{"ID":100069,"Name":"[电子显微术]"}]
. 工学 . 材料科学与工程 . 材料科学基础 . 材料表征与分析 . [显微术] . [电子显微术]场离子显微术及原子探针
/field ion microscopy and atom probe/
最后更新 2024-04-10
浏览 142次
应用制成针尖状试样表面的场电离及场蒸发原理,观察金属表面原子排列并在原子尺度进行显微分析的仪器及技术。
- 英文名称
- field ion microscopy and atom probe
- 所属学科
- 材料科学与工程