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场离子显微术及原子探针

/field ion microscopy and atom probe/
最后更新 2024-04-10
浏览 142
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应用制成针尖状试样表面的场电离及场蒸发原理,观察金属表面原子排列并在原子尺度进行显微分析的仪器及技术。

英文名称
field ion microscopy and atom probe
所属学科
材料科学与工程

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