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. 工学 . 材料科学与工程 . 材料科学基础 . 材料表征与分析 . [显微术] . [电子显微术]扫描电子显微术
/scanning electron microscopy/
最后更新 2024-04-10
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以能量为0.240千电子伏的电子束作为微束激发源（又称一次束），以光栅状扫描方式照射到试样的表面上，通过对入射电子和试样表面物质的相互作用所产生的各种信息（又称二次束）的检测，以实现对有关微区的形态、成分和结晶学等的分析技术。全称为扫描电子显微分析术。
- 英文名称
- scanning electron microscopy
- 所属学科
- 材料科学与工程
- 全称
- 扫描电子显微分析术
京公网安备 11010202008139号
