陶瓷多晶体中各相（主晶相、次晶相、晶界相、气孔等）的化学组成、分布情况，晶体结构、相对含量、晶粒大小、晶粒形状、晶粒取向、粒径分布、气孔率，以及晶界组成、结构、状态等构成陶瓷显微结构的主要内容。

陶瓷材料的显微结构和相组成直接影响材料的性能，相组成、显微结构与材料性能之间的关系是陶瓷学最重要的研究内容之一。

陶瓷的许多性能都与晶粒尺寸有一定的对应关系，如结构陶瓷的强度、蠕变性能，功能陶瓷的介电常数、压电性能、PTC效应等。为了获得高强度或耐电性能好、使用寿命长的材料，通常要求陶瓷具有颗粒均匀的微晶结构。此外，晶粒的形貌及其分布对材料性能的影响也至关重要。

气孔的存在一般会导致陶瓷机械强度、介电系数及耐电强度等性能的降低，但在一定条件下也可能产生有利的结果，例如增大气孔率可以提高陶瓷的抗热震性能，钛酸钡陶瓷的正温度系数效应也会因为气孔率的增大而得到提高。

晶界相的组成、分布状态及其形状也是显微结构分析中的重要内容。晶界相是晶态还是非晶态，其组成和来源以及分布状况都会对材料性能产生重要影响。

此外，在多相复合陶瓷中，第二相的分布状态、各相之间的化学相容性和物理相容性等，在材料性能上都会有所反映。

陶瓷的显微结构取决于工艺过程和工艺条件。从粉体制备开始，依次衔接的各工序都会对陶瓷的显微结构产生影响，但烧结是所有工序中起决定性作用的一个环节。了解烧结过程的机制和动力学是控制陶瓷显微结构的主要依据，也是陶瓷工艺研究的核心。在材料的制备过程中，设计适宜的晶界相，选择合适的烧成工艺，可以对材料的晶界进行调控，获得预期性能的陶瓷材料，即所谓的晶界工程。

陶瓷显微结构的研究方法主要有光学显微镜、X射线衍射、扫描电镜、透射电镜、电子探针、俄歇能谱等。使用光学显微镜可以直接观测形貌，分辨晶相、气孔和玻璃相，测量晶粒大小等。X射线衍射不仅可以用于材料的物相分析，还可以用于测定晶格常数、晶粒尺寸及分布、晶粒取向情况以及应力分布情况等。扫描电镜、透射电镜及高分辨透射电镜是研究精细结构、亚微米区形貌、晶体结构、缺陷、晶界结构的主要手段。分析电镜因配有X射线能谱和电子能量损失谱，为陶瓷材料提供了微区成分测定的手段。微区探针可以测定微区的组成分布。俄歇谱仪、X射线电子谱仪、低能电子谱仪以及扫描隧道显微镜等可以用于陶瓷表面及界面状态、杂质存在状态及其分布的研究。