晶体中的溶质浓度：

式中为熔体中溶质平均浓度；为有效分凝系数，计算式为：

式中为平衡分凝系数。如果生长速率和溶质边界层厚度发生变化，也随之发生变化，因此晶体中溶质浓度也跟着变化。

生长条纹是由不正常的工艺如加热功率起伏、热损耗起伏、熔体的非稳流动、籽晶杆跳动、机械振动等引起的。由以上各原因引起的生长层一般是非周期性的，生长层是互相平行的层状组织。如果晶体生长时温场不对称，或虽是对称温场，但籽晶的转轴与温度的对称轴不一致，晶体旋转一周生长速率产生一次起伏，就形成具有严格周期性的旋转性生长层。这种生长层是以晶体转轴为轴线的一连续螺蜷面。

生长条纹是一种常见的宏观缺陷，它破坏了晶体物理性能的均匀性。为获得优质晶体，在晶体生长过程中应稳定生长条件，排除产生生长层的因素，避免出现生长层。

生长条纹的形态反映了生长界面的形态，因此有意识地引入已知周期的生长条纹，不仅可以追溯生长过程中的界面形态和演变过程，而且可作为时标，定量地测定瞬时显微生长速率，是研究晶体生长的有用方法。