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表面质量评价

/surface quality evaluation/
条目作者王孝坤

王孝坤

最后更新 2022-01-20
浏览 147
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对光学元件表面微观形状几何特征的描述,即评价实际光学元件表面面形和理想元件表面的偏差。

英文名称
surface quality evaluation
所属学科
光学工程

表面质量评价一般包括表面粗糙度、表面微观形貌和表面损伤等指标。其中表面粗糙度和表面微观形貌是工件几何形状主要组成部分,反映工件表面真实的表面形貌,直接影响光学元件的光学性能。

表面粗糙度是指光学表面具有的较小间距和微小峰谷不平度,用肉眼是难以观察的,因此它属于微观几何形状误差,在几何特征参数里面,表面粗糙度是最成熟和最便于应用的表面评定数据。

微观形貌主要是指表面形貌、加工纹理度和波度。表面形貌主要采用观测工具(激光共聚焦显微镜、电子扫面显微镜和超景深显微镜)得到三维形貌,对表面轮廓有直观了解。加工纹理度主要是指加工方向,通常采用加工方向和工件受力方向的夹角来描述,理想的加工工艺这个夹角接近0度。波度是加工进给量的大小,主要反映接刀时留下的表面轮廓特征。

表面缺陷主要指光学加工过程导致的微观表面缺陷,是由于加工过程中局部加工损伤、材料本身缺陷等造成的,使表面粗糙度变大,导致零件不合格。

  • 王占山.超光滑表面评价问题初探.光学测量技术研讨会,2006,36-45.

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