根据测量原理主要分为磁性测厚仪、涡流测厚仪、超声波测厚仪、电解测厚仪和放射测厚仪。

磁性测厚仪。采用磁感应原理，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体磁通的大小测定覆层厚度，也可以测定与之对应磁阻的大小，来表示覆层厚度。适用于导磁材料上的非导磁层厚度测量，导磁材料一般为钢、铁、镍等，测量精度较高。

涡流测厚仪。当载有高频电流的探头线圈置于被测金属表面时，由于高频磁场的作用使金属体内产生涡流，涡流产生的磁场又反作用于探头线圈，使阻抗发生变化，变化量与探头线圈离金属表面的距离（即覆盖层的厚度）有关，因而根据探头线圈阻抗的变化可间接测量金属表面覆盖层的厚度。适用导电金属上的非导电层厚度测量，较磁性测厚法精度低。

超声波测厚仪。超声波在各种介质中的声速是不同的，但在同一介质中声速是一常数。超声波在介质中传播遇到第二种介质时会被反射，测量超声波脉冲从发射至接收的间隔时间，即可将间隔时间换算成厚度。适用多层涂镀层厚度的测量或者以上两种方法都无法测量的场合，但一般价格昂贵，测量精度也不高。

电解测厚仪。不属于无损检测，需要破坏涂镀层，一般精度不高，测量难度较大。

放射测厚仪。仪器价格非常昂贵，适用于一些特殊场合。

使用最普遍的是磁性测厚仪和涡流测厚仪。

涂层测厚仪