平板数字射线检测系统主要由X射线系统、平板探测器、计算机及相应软件等组成（见图）。技术核心是平板探测器，其性能的好坏对成像质量起着决定性的作用。①X射线系统。用于产生X射线，其辅助装置包括高压发生器、电动光栏、循环水冷却器等。②平板探测器。平板数字射线检测系统的核心部件，由转换屏、光电二极管阵列、数据采集系统组成。转换屏通过吸收射线将其转换成可见光，可见光信号再由光电二极管转换成电荷；形成的电荷经过不断的积累最后由TFT集成电路读出，再经A/D完成模拟信号到数字信号的转换，送到计算机进行处理。③计算机及相应软件。所获得的数字化图像呈现在显示器上，整机的控制操作和进行信号处理、数字化图像重构、检测图像保存等。

平板数字射线检测系统原理示意图

根据能量转换方式，平板探测器可以分为直接转换平板探测器（direct FPD）和间接转换平板探测器（indirect FPD）。①直接转换平板探测器。由非晶硒层（amorphous Selenium，a-Se）和薄膜晶体管（thin film transistor，TFT）构成。当X线照射非晶硒时，由于非晶硒的光电特性产生一定比例的正负电荷，在几千伏电压作用下，电荷在光电导层内沿电场方向移动，形成光电流，被TFT探测器单元阵列收集。由于非晶硒不产生可见光，没有散射线的影响，因此可以获得比较高的空间分辨率。②间接转换平板探测器。由碘化铯或硫化钆等闪烁晶体涂层与薄膜晶体管（thin film transistor，TFT）构成。当X线照射闪烁晶体涂层时，X线的能量转换成可见光，再经次TFT将可见光转换成电信号。由于在这过程中可见光会发生散射，对空间分辨率产生一定的影响。