在PN结、肖特基结和MOS等器件结构中，从其测试曲线中，可以获得理想因子、电阻率、导电类型、金属-半导体接触类型等参数，结合变温实验，可以获得载流子输运类型、激活能等信息。在太阳能电池测试曲线中，可以获得太阳能电池性能的参数等。

曲线测试中，为消除金属电极和半导体的接触势垒对测试结果的影响，一般需要制作欧姆接触电极；若同时结合四线法的应用，则可进一步克服连线电阻等因素的影响。

随着各种半导体材料应用研究的深入，对电流-电压曲线测试提出了更高的要求，如纳米半导体材料或器件研究中，为克服热的影响，电压一般采用脉冲方式施加；在亚皮安培（低于10^-12安培）的低电平电流-电压曲线测试中，需要采用漏电隔离技术；在电力电子器件研究中，电流-电压曲线测试需要在几千伏高电场和几百摄氏度高温下进行。