材料发射率测量/ materials emissivity measurement // materials emissivity measurement /
对各种物质表面的发射率（又称辐射率、黑度系数等）进行测量的方法。
单光路法测量光谱发射率/ single-beam method /single-beam method
材料发射率测量样品光束与比较黑体有相同的光程的测量方法。双光路法测量光谱发射率/ double-beam method /double-beam method
材料发射率测量将被测样品和标准黑体源光路分离，并且采用对称补偿的测量方法。
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