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光致电流瞬态谱/ optical transient current spectroscopy /optical transient current spectroscopy
[电学测量]
在深能级瞬态能谱（DLTS）基础上发展起来的一种半导体材料深能级缺陷电学测量技术。简称OTCS。又称光激发瞬态电流谱。
电子束诱导电流法/ electron beam induced current method /electron beam induced current method
[电学测量]
分析半导体材料和器件微观电学性质的测试技术。简称EBIC法。
导电类型测量/ measurement of conductivity type /measurement of conductivity type
[电学测量]
对半导体材料导电类型（P或N型）的测量。
深能级瞬态能谱/ deep level transient spectroscopy /deep level transient spectroscopy
[电学测量]
研究半导体中深中心（深能级杂质和缺陷）物理性质的一种技术。简称DLTS。
少子寿命测量/ minority carrier lifetime measurement /minority carrier lifetime measurement
[电学测量]
对少数载流子寿命的测量。
霍尔测量/ Hall coeffecient measurement /Hall coeffecient measurement
[电学测量]
与霍尔系数有关的一系列测量。
电流电压法/ current-voltage method /current-voltage method
[电学测量]
在半导体材料样品或器件的两端施加电压，通过测量其通过电流的大小，以获得电流-电压（）曲线的技术。是测量半导体材料或器件中载流子输运行为的重要方法，也是分析电学性能的重要手段。
热激电流谱/ thermally stimulated current spectrum /thermally stimulated current spectrum
[电学测量]
研究高阻半导体中缺陷能级及其浓度的电学测量技术。
电阻率测量/ resistivity measurement /resistivity measurement
电阻率测量
对半导体材料电阻率的测量方法。
四探针法/ four-probe measurement /four-probe measurement
电阻率测量
半导体材料电阻率测量中经常采用的一种方法。

光致电流瞬态谱/ optical transient current spectroscopy /optical transient current spectroscopy

电子束诱导电流法/ electron beam induced current method /electron beam induced current method

导电类型测量/ measurement of conductivity type /measurement of conductivity type

深能级瞬态能谱/ deep level transient spectroscopy /deep level transient spectroscopy

少子寿命测量/ minority carrier lifetime measurement /minority carrier lifetime measurement

霍尔测量/ Hall coeffecient measurement /Hall coeffecient measurement

电流电压法/ current-voltage method /current-voltage method

热激电流谱/ thermally stimulated current spectrum /thermally stimulated current spectrum

电阻率测量/ resistivity measurement /resistivity measurement

四探针法/ four-probe measurement /four-probe measurement