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扫描隧道显微镜/ scanning tunneling microscope /scanning tunneling microscope
[电子显微术]
利用曲率半径为原子尺度的金属针尖在样品表面扫描，根据量子隧道效应来获取反映样品表面形貌及电子态图像的一种新型显微镜。简称STM。
场离子显微术及原子探针/ field ion microscopy and atom probe /field ion microscopy and atom probe
[电子显微术]
应用制成针尖状试样表面的场电离及场蒸发原理，观察金属表面原子排列并在原子尺度进行显微分析的仪器及技术。
取向成像技术/ oim-orientation imaging microscopy /oim-orientation imaging microscopy
[电子显微术]
取向成像过程及得到的主要含取向信息的组织形貌图像技术。又称取向成像显微术。简称OIM。
衍射衬度电子显微术/ electron microscopy of diffraction contrast /electron microscopy of diffraction contrast
[电子显微术]
由电子衍射效应在电子显微象中产生衬度从而研究晶体微观组织的一种技术。简称衍衬显微术。
分析电子显微术/ analytical electron microscopy /analytical electron microscopy
[电子显微术]
收集、测定和分析从样品中被高能电子束照射的局部区域发射出的各种不同信号，从而确定其形貌、成分、点阵和电子结构与磁结构等信息的原理和技术。
扫描电子显微术/ scanning electron microscopy /scanning electron microscopy
[电子显微术]
以能量为0.240千电子伏的电子束作为微束激发源（又称一次束），以光栅状扫描方式照射到试样的表面上，通过对入射电子和试样表面物质的相互作用所产生的各种信息（又称二次束）的检测，以实现对有关微区的形态、成分和结晶学等的分析技术。全称为扫描电子显微分析术。
高分辨电子显微术/ high resolution electron microscopy /high resolution electron microscopy
[电子显微术]
一种基于相位衬度成像机制的透射电子显微术。又称高分辨电子显微学。

扫描隧道显微镜/ scanning tunneling microscope /scanning tunneling microscope

场离子显微术及原子探针/ field ion microscopy and atom probe /field ion microscopy and atom probe

取向成像技术/ oim-orientation imaging microscopy /oim-orientation imaging microscopy

衍射衬度电子显微术/ electron microscopy of diffraction contrast /electron microscopy of diffraction contrast

分析电子显微术/ analytical electron microscopy /analytical electron microscopy

扫描电子显微术/ scanning electron microscopy /scanning electron microscopy

高分辨电子显微术/ high resolution electron microscopy /high resolution electron microscopy