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计算机断层扫描技术/ computed tomography /computed tomography
[显微术]
通过获取被测对象的视场内、全方位物理信息，进行有效信息反演，实现其内部结构、状态的可视化，进一步延伸人类探测世界的视野的技术。又称计算机层析成像技术（Computed Tomography），简称CT技术。
体视金相学/ stereological metallography /stereological metallography
[显微术]
采用体视学和图像分析技术等，对材料的显微组织进行定量表征（如测估晶粒尺寸、各相的含量、第二相的大小、数量、形状及其分布特征等）的一类金相技术。又称定量金相学。
光学显微术/ optical microscopy /optical microscopy
[显微术]
用光学显微镜观察物体组织的技术。
定量金相/ quantitative metallography /quantitative metallography
[显微术]
在金相分析中对显微组织的特征参数做几何学测定，研究组织及其与材料性能之间定量关系的分析技术。
声学显微术/ acoustic microscopy /acoustic microscopy
[显微术]
利用样品弹性性质的差别，用声波成像方法产生高反差、高放大倍数的显微成像技术。
显微图像处理/ micrographic image processing /micrographic image processing
[显微术]
利用仪器设备，根据所定目的对显微象进行修正和变换，以揭示符合要求的图像特征。
扫描隧道显微镜/ scanning tunneling microscope /scanning tunneling microscope
[电子显微术]
利用曲率半径为原子尺度的金属针尖在样品表面扫描，根据量子隧道效应来获取反映样品表面形貌及电子态图像的一种新型显微镜。简称STM。
场离子显微术及原子探针/ field ion microscopy and atom probe /field ion microscopy and atom probe
[电子显微术]
应用制成针尖状试样表面的场电离及场蒸发原理，观察金属表面原子排列并在原子尺度进行显微分析的仪器及技术。
取向成像技术/ oim-orientation imaging microscopy /oim-orientation imaging microscopy
[电子显微术]
取向成像过程及得到的主要含取向信息的组织形貌图像技术。又称取向成像显微术。简称OIM。
衍射衬度电子显微术/ electron microscopy of diffraction contrast /electron microscopy of diffraction contrast
[电子显微术]
由电子衍射效应在电子显微象中产生衬度从而研究晶体微观组织的一种技术。简称衍衬显微术。

计算机断层扫描技术/ computed tomography /computed tomography

体视金相学/ stereological metallography /stereological metallography

光学显微术/ optical microscopy /optical microscopy

定量金相/ quantitative metallography /quantitative metallography

声学显微术/ acoustic microscopy /acoustic microscopy

显微图像处理/ micrographic image processing /micrographic image processing

扫描隧道显微镜/ scanning tunneling microscope /scanning tunneling microscope

场离子显微术及原子探针/ field ion microscopy and atom probe /field ion microscopy and atom probe

取向成像技术/ oim-orientation imaging microscopy /oim-orientation imaging microscopy

衍射衬度电子显微术/ electron microscopy of diffraction contrast /electron microscopy of diffraction contrast